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統計過程監測中低階EPC控制器分析與設計

2012年03月02日09:13:20 本網站 我要評論(2)字號:T | T | T
關鍵字:應用 
摘   要:觀測值相互獨立并服從正態分布是應用統計過程控制(SPC)的基本前提,然而由于某些不可消除因素,實際過程的輸出觀測值常常是自相關的。采用SPC與EPC整合,消除過程自相關,實現對自相關過程的監控。將狀態空間分析法引入到EPC控制器的設計中,通過極點配置方法來分析EPC控制器的性能,研究平均運行鏈長(ARL)與極點配置的關系。較后對均值發生階躍型故障的自相關ARMA(1,1)過程進行仿真實驗,得到EPC控制器極點的較優配置范圍。仿真結果亦證明了該方法的可行性和有效性。
關 鍵 詞:EPC控制器;狀態空間;自相關過程;統計過程控制;工程過程控制

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