微捷碼3D場解析器QuickCap NX 通過了臺聯電對其作為參考寄生提取工具的質量檢驗
芯片設計解決方案供應商微捷碼(Magma®)設計自動化有限公司(納斯達克代碼:LAVA)日前宣布,QuickCap® NX通過了臺聯電(UMC)(紐約證券交易所代碼:UMC;東京證券交易所代碼:2303)對其作為40和65納米工藝技術參考寄生提取工具的質量檢測。
QuickCap NX是一款公認的3D參數提取器,可對當今納米提取要求所需的先進工藝效應進行精確的建模,如:光學鄰近效應修正(OPC)、化學機械研磨(CMP)、金屬層間介電質層(IMD)變異、損傷模型和隨寬度變化的溫度系數。
臺聯電的質量檢測流程包括了復雜的測試結構,如:環振、金屬-氧化物-金屬電容器(MOMCap)以及實際設計上關鍵網路。在所有情況下,QuickCap NX均可無損精度地提供了短的提取周期。
“臺聯電致力于為客戶提供可幫助確保芯片設計成功的尖端設計制造解決方案,”臺聯電(UMC)IP開發和設計支持部門總監Stephen Fu表示。“QuickCap NX滿足了客戶在寄生提取方面的需求,我們很高興能將這款工具添加到我們的設計資源組合中。”
“臺聯電提供了一些世界上較先進的40納米量產技術,”微捷碼設計實施業務部總經理Premal Buch表示。“它對微捷碼3D場解析器的質量檢驗進一步鞏固了QuickCap NX作為寄生提取領域黃金標準的地位。”
QuickCap NX:寄生提取領域黃金標準
QuickCap NX常被主流半導體公司用作為寄生提取參考標準。經證明,QuickCap NX通過與精確分析解決方案和芯片測量密切聯系,可提供了芯片測量的1%誤差范圍以內的電容值。同時,通過提供有關每個網絡的拔入精度和誤差界限報告,它還為用戶提供了對結果精度的完整控制,讓用戶對結果精度充滿信心。目前,QuickCap NX更密切配合芯片測量的能力已得到領先的代工廠的確認;通過將工藝效應考慮在內,QuickCap NX電容值與實際芯片測量間平均差已從9.79%降低為只有0.11%。在微捷碼流程中,QuickCap NX可被用以進行布局后分析。同時,QuickCap技術可被合并進Talus®物理設計軟件系統中以支持芯片實現期間高度精確的時序和噪聲分析;它還可被用于計算Talus和Quartz™ RC簽核提取工具內所用的高度精確的電容規則。
微捷碼將在6月14-16日美國加州阿納海姆市阿納海姆會議中心舉行的第47屆設計自動化會議(DAC)602展位上展示其整條芯片設計軟件產品線。有關微捷碼在DAC上活動信息請訪問www.magma-da.com/DAC2010。
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