―R&S公司將參展2016年微波毫米波科技成果及產品展（MWIE2016）

http://www.rohde-schwarz.com.cn/news.php?id=782

2016年國際微波毫米波技術會議(ICMMT2016)暨2016年微波毫米波科技成果及產品展(MWIE2016)，將于2016年6月6-8日在北京舉行。MWIE已經有20多年的歷史，每年一屆，逢雙數年和國際微波毫米波技術會議同期舉行,逢單數年與全國微波毫米波會議（中國微波年會）一起舉辦。來自美國、歐洲、亞太和國內的微波毫米波領域的知名專家將參加此次會議，同時眾多國內外知名的微波射頻元器件廠商前來展示其較新的微波毫米波產品與技術。此次盛會，將是您了解行業產品和技術的較好機會，開拓市場的較佳選擇。

羅德與施瓦茨公司（Rohde & Schwarz，R&S）作為全球較大的電子和無線測試設備廠商之一，將在本次展會上全面展示其領先的微波毫米波測試產品和技術解決方案。此次展會，R&S公司共推出5個參展主題：

毫米波太赫茲器件測試技術

• ZVA      矢量網絡分析儀

通用微波元器件測試技術

• ZNB      矢量網絡分析儀

毫米波及超寬帶信號的產生與分析技術

• SMW      矢量信號發生器
• FSW      信號與頻譜分析儀

全新的相位噪聲測試技術

• FSWP     相位噪聲分析儀

較新微波EMI測試接收機技術

• ESW      EMI認證測試接收機

本次展會，R&S公司將展出全新的FSWP相位噪聲分析儀，全新的ESW認證測試接收機及性能卓越的毫米波太赫茲測試產品。通過參觀和交流，用戶將體驗到R&S公司的一流產品、服務以及先進理念，領略到R&S公司全面的微波毫米波測試平臺，感受R&S公司在微波行業的影響力。

誠邀您光臨R&S公司展臺：北京國際會議中心 No.316